2008 17ª Conferência Mundial sobre Teste Não-destrutivo

setembro 23, 2008
2008 17th World Conference on Nondestructive Testing

Spellman High Voltage Electronics Corp. e a Spellman High Voltage (SIP) Co. Ltd. têm orgulho em anunciar que exibirão na próxima 17ª Conferência Mundial sobre Teste Não-destrutivo, a ser realizada em 25-28 de outubro de 2008 em Xangai, China, no Centro de Exposições de Xangai, Estande C355.

Para mais informações Clique Aqui

News Home